JEOL 推出新型电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和JXA-iSP100

东京-(美国商业资讯)-JEOL Ltd.(TOKYO：6951)(总裁兼首席运营官Izumi Oi)宣布推出新型肖特基场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F和新型钨/ LaB 6电子探针显微分析仪JXA -iSP100，将于2019年11月发布。

产品开发背景

电子探针微分析仪(EPMA)用作钢，汽车，电子零件和电池材料等广泛工业领域中的研发和质量控制工具。此外，在学术领域，EPMA在地球与行星科学和材料科学中得到利用，不仅涵盖矿物能源研究，而且还涉及新型材料研究，从而为各种前沿研究做出了贡献。随着EPMA应用程序的增加，EPMA用户需要具有高可操作性的简单，快速分析，同时又要在定义的目标区域中保持高质量的痕量元素分析性能。

为了满足这些需求，JXA-iHP200F和JXA-iSP100可以无缝集成从观察(光学和SEM图像)到使用波长色散X射线光谱仪(WDS)，能量色散X射线光谱仪(EDS)，阴极射线管发光( CL)以及其他技术。

主要特点

集成式EPMA可实现简单快速的操作

高通量

任何人都可以高精度 地执行从标本插入到分析区域确定的无缝操作。

高度准确的分析

集成的EPMA系统使任何人都可以更快，更轻松地获取分析数据，并且具有更高的准确度和精确度以及更快的能力。

易于维护

由于维护仅在需要时自动执行，因此每个人都可以将EPMA系统维护在最佳状态。

JXA-iHP200F和JXA-iSP100具有高度的可扩展性。不仅可以用于WDS和EDS系统，还可以结合用于化学状态分析的软X射线发射光谱仪(SXES)，用于晶体取向分析的电子背散射衍射系统(EBSD)和阴极发光检测器(CL)，以用于在广泛的应用中进行多样化的分析。

注意：EPMA是“ Electron Probe Microanalyzer”的缩写。

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